【出展情報】SCANOLOGYが「JIMTOF 2026」に出展！複雑形状の3D測定ソリューションを紹介

APPLE TREE株式会社が取り扱う3D測定ソリューションブランド「SCANOLOGY」が、2026年10月26日（月）から31日（土）まで東京ビッグサイトで開催される「JIMTOF 2026（第33回日本国際工作機械見本市）」に出展いたします。

複雑形状の測定を、もっと速く、確実に。

SCANOLOGYでは、大型部品や複雑な配管、測りにくい曲面などを、非接触でスピーディーに3Dデータ化する3D測定ソリューションを紹介します。

複雑形状の測定を効率化し、検査工程や品質判断を支援するソリューションを、ぜひ会場でご覧ください。

JIMTOF 2026 出展概要

会期：2026年10月26日（月）～31日（土）

会場：東京ビッグサイト 東7ホール

小間番号：E7013

出展ブランド：SCANOLOGY

JIMTOF 2026へご来場予定の方は、ぜひSCANOLOGYのブースへお立ち寄りください。

SCANOLOGYの製品情報や3D測定ソリューションについては、公式サイトをご覧ください。