KSCAN-Magic 複合3Dスキャナー

KSCAN-Magicは、赤外線と青色レーザーを同時に搭載した計測グレードの複合型3Dスキャナーで、5種類のスキャンモードを標準搭載しています。
大面積をカバーする赤外線平行レーザー、高速スキャンに適した青色交差レーザー、精密測定向けの青色平行レーザー、深穴対応の単一青色レーザー、さらに内蔵広域フォトグラメトリ機能により、多様な測定ニーズに対応可能です。
マルチ波長スキャンと高度なキャリブレーション技術の融合により、速度・精度・細部表現・測定範囲・被写界深度をすべて最適化。
これにより、3D測定ワークフローの効率が大幅に向上し、製品開発サイクルの短縮に貢献します。
  • 5つの作業モード

  • 内蔵広域フォト
    グラメトリ機能

  • マルチ波長スキャン技術

  • スキャン速度
    270万回/秒の測定

  • 最大精度0.020mm

  • 被写界深度925mm

5つのモードを自由に切り替え

広域スキャンでは、11本の赤外線平行レーザーを使用し、最大 1440mm × 860mm のスキャン範囲をカバー。
大型オブジェクトも効率的かつ容易に広範囲を計測できます。

高精度の非接触計測・検査

最大 0.020mm のスキャン精度を実現し、さらに MSCAN-L15フォトグラメトリ機能を組み合わせることで、体積精度は 0.015mm + 0.012mm/m に到達。
幅広い分野において、信頼性の高い高精度な非破壊検査ソリューションを提供します。

柔軟性と機動性 ― 現場を選ばない測定環境

KSCAN-Magicは、コンパクトで携帯性に優れ、安定した計測性能を発揮します。振動・温度・湿度といった外部環境の影響を受けにくく、どこでも迅速に測定を開始可能です。
さらに、光沢のある表面や黒色の材質にも対応できるため、あらゆる状況で3Dデータを取得できます。

多彩な拡張機能

スマート境界検出モジュール(オプション)
高精度の画像処理アルゴリズムを使うことで、穴や溝といった複雑な部分も正確に
捉えられます。これにより、寸法の正確さや繰り返し測定の安定性が向上します。
タッチプローブ(オプション)
スキャナーの光が届きにくい箇所や複雑な表面には、オプションの K-Probe を活用。3Dスキャンを補完し、精密な計測を可能にします。
パイプ計測(オプション)
多様なモードを活用することで、異なるサイズや材質のパイプも正確にスキャン可能。専用ソフトウェアと組み合わせれば、
リバースエンジニアリングや検査比較を効率的に行えます。
自動化3Dビジョン検査システム
Scantechの自動化3Dビジョン検査ソリューションと連携することで、
スムーズな導入とインテリジェントな制御を実現。
大量検査でも高精度かつ効率的な自動化ワークフローを構築できます。

製品仕様

機種名KSCAN-MAGIC
スキャンモード高速スキャン22本青色交差レーザー
高精度スキャン7本青色平行レーザー
広域スキャン11本赤外線平行レーザー
深穴スキャン1本青色レーザー
レーザー本数合計41本
最高精度(1)0.020 mm
最大スキャン速度2,700,000 点/秒
最大スキャン幅(ワンフレーム)1440 mm × 860 mm
フォトグラメトリ機能標準搭載本体内搭載
ワンショット撮影幅3760 mm × 3150 mm
被写界深度2500 mm
レーザー種類Class 2M
最高解像度0.010 mm
最高体積精度(2)フォトグラメトリ機能0.015mm + 0.030 mm/m
1mスケールバー0.015mm + 0.020 mm/m
MSCAN-L15フォトグラメトリ機能0.015mm + 0.015 mm/m
焦点距離300 mm
被写界深度925 mm
出力形式pj3, asc, igs, txt, mk2, umk, stl, ply, obj
入力形式pj3, pjs, asc, igs,txt, mk2, umk, refxml, stl, ply, step
動作温度範囲-10°C~40°C
インターフェースUSB 3.0
推奨PCスペック OS:Windows 10 / 11
CPU:i9 16コア/24スレッド以上 / RAM:64GB以上
GPU:NVIDIA RTX3050(8GB)以上 (AMD社GPUは対応しておりません)
ソフトウェアスキャンソフトscanviewer、無償測定ソフト

※(1) ISO 17025試験所認定:VDI/VDE 2634 part3規格およびJJF 1951仕様に基づく寸法検出誤差(PS)の性能評価。
※(2) ISO 17025試験所認定:VDI/VDE 2634 part3規格およびJJF 1951仕様に基づくボール中心間距離測定誤差(SD)の性能評価。

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